蛍光X線検査装置
We suggest the high performance fluorescence X-ray measurement systems.
日本アレックスでは蛍光X線を使用した高精度膜厚測定器やRoHS規制対応の有害元素検査装置を取り扱っています。
ハードディスク、プリント基板、金属製品などの各種めっき製品の膜厚測定に最適なXRF2000シリーズは、高性能ながら450万円台からの低価格を実現しました。
またRoHS、ELVなどで規制されている指定有害元素の測定や、鉛フリー半田、再生燃料（RPF）等の測定に最適なEDFシリーズは、使用現場の声を反映して開発された、操作性に優れた検査装置です。
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